Mã QR
Về chúng tôi
Các sản phẩm
Liên hệ chúng tôi

Điện thoại

Số fax
+86-579-87223657

E-mail

Địa chỉ
Đường Wangda, phố Ziyang, huyện Wuyi, thành phố Kim Hoa, tỉnh Chiết Giang, Trung Quốc
Giải quyết vấn đề độ dày màng không đồng đều gây ra bởi sự biến đổi giữa các túi cao (1,4%) trong các chất có độ nhạy than chì epit Wax silicon nhiều túi, VeTek Semiconductor đã cải thiện độ phẳng của chất cảm ứng xuống <0,08mm và giảm sự biến đổi từ túi này sang túi khác xuống 0,69% thông qua mô phỏng trường dòng chảy lò CVD và gia công có độ chính xác cao, tăng đáng kể năng suất wafer epiticular.
Chất nhạy cảm Graphite Silicon Epit Wax nhiều túi với lớp phủ SiC CVD có độ chính xác cao
Trong quá trình sản xuất epitaxy silicon nhiều túi, khách hàng của chúng tôi (một xưởng đúc bán dẫn) đã phải đối mặt với những thách thức lâu dài với sự biến đổi cao giữa các túi trong độ dày lớp epiticular (dữ liệu gốc: 1,4%). Điều này ảnh hưởng nghiêm trọng đến tính nhất quán của tấm wafer epiticular và năng suất của thiết bị xuôi dòng. Bằng cách tiến hành mô phỏng và phân tích số 3D về động lực học chất lỏng bên trong và trường nhiệt bên trong lò epit Wax CVD, kết hợp với tối ưu hóa cấu trúc dụng cụ và công nghệ phủ Silicon Carbide lắng đọng hơi hóa học (CVD SiC) có độ chính xác cao, nhóm Bán dẫn VeTek đã cải thiện đáng kể độ phẳng bề mặt của chất nhạy cảm than chì epit Wax silicon nhiều túi từ <0,20mm đến <0,08mm. Sau những cải tiến này, sự thay đổi độ dày màng từ túi đến túi của khách hàng giảm mạnh xuống 0,69%, đạt được bước nhảy vọt về chất lượng về độ đồng đều của độ dày màng.
So sánh các chỉ số hiệu suất chính
|
Số liệu chính |
Dữ liệu trước cải tiến |
Dữ liệu sau cải tiến |
Biên độ tối ưu hóa và cải tiến |
|
Độ dày màng thay đổi theo từng túi |
1,40% |
0,69% |
Giảm 50,7% (Giảm tuyệt đối 0,71%) |
|
Độ phẳng của chất nhạy cảm than chì |
< 0,20mm |
< 0,08 mm (Thông thường <0,15mm) |
Độ chính xác của độ phẳng được cải thiện 60% |
|
Độ đồng đều độ dày màng wafer epiticular CVD |
Kém (Hiệu ứng ranh giới nghiêm trọng) |
Tuyệt vời (Tính nhất quán toàn bộ đĩa vượt trội) |
Đạt tiêu chuẩn hạng A của xưởng đúc cấp 1 chính thống |
|
Epiticular wafer Năng suất tổng thể của sản phẩm |
Tỷ lệ phế liệu cao đối với tấm wafer cạnh |
Cải thiện đáng kể |
Hiệu suất đầu ra chạy một lần tăng ~ 12% |
Quan điểm cốt lõi: Trong quá trình sản xuất epit Wax silicon nhiều túi, kích thước lớn, ngay cả những biến dạng nhạy cảm nhỏ nhất cũng bị phóng đại do tổn thất năng suất chip đắt tiền.
Khách hàng trong mối quan hệ đối tác này là một nhà sản xuất thiết bị điện và tấm silicon epiticular 8 inch/12 inch hàng đầu, chủ yếu sản xuất các tấm wafer silicon màng dày được sử dụng trong MOSFET điện áp cao, IGBT và thiết bị điện tử ô tô. Khi các khách hàng hạ nguồn yêu cầu tính nhất quán ngày càng nghiêm ngặt về các thông số điện của chip, độ dày lớp epiticular và tính đồng nhất điện trở suất đã trở thành số liệu cốt lõi để đánh giá chất lượng wafer epiticular. Khách hàng sử dụng lò phản ứng epit Wax silicon CVD nhiều túi có khả năng xử lý đồng thời nhiều tấm silicon trong một lần chạy. Tuy nhiên, do chu kỳ nhiệt ở nhiệt độ cao kéo dài và xói mòn dòng khí, các chất nhạy cảm than chì ban đầu của chúng không còn có thể đáp ứng các yêu cầu quy trình có độ chính xác cao liên quan đến độ biến thiên và độ phẳng của từng túi.
Quan điểm cốt lõi: Dung sai độ phẳng quá mức của chất nhạy cảm than chì trực tiếp làm gián đoạn sự phân bổ trường dẫn nhiệt và dòng khí bên trong lò CVD, gây ra sự thay đổi độ dày nghiêm trọng giữa các túi.
Trong quá trình tăng trưởng epiticular silicon CVD, các khí tiền chất (như SiHCl3/SiH4) lắng đọng ở nhiệt độ cao trên bề mặt wafer để tạo thành lớp epiticular đơn tinh thể. Chất nhạy cảm than chì không chỉ đóng vai trò là chất mang mà còn đóng vai trò quan trọng trong việc dẫn nhiệt đồng đều và dẫn hướng trường dòng chảy. Các trở ngại kỹ thuật cụ thể mà khách hàng gặp phải bao gồm:
Do các biến dạng vi mô trên bề mặt sau khi sử dụng kéo dài, thiết bị cảm ứng than chì nhiều túi ban đầu của khách hàng có sự khác biệt nhỏ về độ sâu hốc của túi và hiệu suất bức xạ nhiệt giữa các túi riêng lẻ. Các phép đo thực tế cho thấy dữ liệu về sự khác biệt giữa các túi lên tới 1,4%. Sự khác biệt này trực tiếp dẫn đến tốc độ tăng trưởng lớp epiticular không nhất quán trên các tấm silicon được đặt trong các túi khác nhau trong cùng một lô, dẫn đến độ lệch độ dày màng quá mức.
Độ phẳng của các cảm biến ban đầu chỉ có thể được duy trì ở mức <0,20mm. Trong môi trường epit Wax nhiệt độ cao 1100°C–1200°C, bề mặt không bằng phẳng khiến dòng khí phản ứng hình thành các dòng xoáy cục bộ đồng thời tạo ra những khoảng trống không đồng nhất giữa bộ phận cảm ứng và bộ gia nhiệt cảm ứng. Điều này sau đó gây ra các trường nhiệt không đồng đều trên bề mặt, làm biến động độ dày màng mỏng hơn.
Điểm yếu & Phân tích cơ chế kỹ thuật
|
Biểu hiện điểm đau |
Cơ chế vật lý/quy trình |
Tác động đến sản xuất và năng suất |
|
Tỷ lệ biến đổi giữa túi và túi ở mức 1,4% |
Độ sâu hốc và tốc độ dẫn nhiệt ở đáy không nhất quán giữa các túi |
Sự thay đổi độ dày lớn giữa các tấm bán dẫn trong cùng một lô; Tỷ suất lợi nhuận hạng A giảm |
|
Độ phẳng > 0,20mm |
Sự gợn sóng bề mặt gây ra sự bức xạ nhiệt không đều và nhiễu loạn khí ở nhiệt độ cao |
Độ lệch độ dày giống như hình thang giữa tâm và cạnh của tấm bán dẫn; hiệu ứng cạnh trầm trọng hơn |
|
Tuổi thọ lớp phủ ngắn / Dễ bị bong tróc |
Sự kết hợp hệ số giãn nở nhiệt kém giữa lớp phủ SiC truyền thống và than chì |
Tăng ô nhiễm hạt; thời gian ngừng hoạt động thiết bị thường xuyên để bảo trì |
Phối cảnh cốt lõi: Tối ưu hóa dòng chảy và trường nhiệt thông qua mô phỏng số, kết hợp với gia công CNC chính xác ở mức micron và lớp phủ CVD SiC dày đặc có độ tinh khiết cao, về cơ bản định hình lại hiệu suất của bộ cảm biến.
Để giải quyết các tắc nghẽn về độ phẳng và biến đổi từng túi của khách hàng, nhóm kỹ thuật của VeTek Semiconductor đã tiến hành đánh giá tại chỗ, trích xuất các thông số vận hành lò phản ứng và thiết kế một giải pháp tối ưu hóa toàn diện, được tùy chỉnh hoàn toàn:
Cơ sở kiểm soát chất lượng, phòng sạch và gia công chính xác tiên tiến của VeTek Semiconductor
Sử dụng ANSYS Fluent, mô phỏng số 3D đã được thực hiện về tốc độ dòng khí, độ dày lớp biên và truyền nhiệt bức xạ nhiệt bên trong lò phản ứng CVD. Dựa trên các phân tích mô hình, bán kính chuyển tiếp cạnh túi và cấu trúc rãnh dẫn khí trên bề mặt chất nhạy cảm đã được thiết kế lại, cho phép khí phản ứng duy trì chế độ dòng chảy tầng rất ổn định phía trên mỗi túi và loại bỏ các xoáy cục bộ.
Than chì đẳng hướng đẳng hướng mật độ cao, độ tinh khiết cao được chọn làm vật liệu nền, kết hợp với dụng cụ gia công chính xác CNC 5 trục nâng cấp. Bằng cách tinh chỉnh kiểm soát ứng suất kẹp và quỹ đạo đường chạy dao trong quá trình xử lý, độ phẳng của cảm biến sau gia công được kiểm soát chặt chẽ giảm từ <0,20mm xuống <0,15mm, với các bề mặt cảm biến cấp cao nhất của lõi đạt được độ phẳng đột phá <0,08mm.
Một lớp phủ α-SiC có mật độ cao với độ dày đồng đều được phát triển trên bề mặt đế than chì thông qua quá trình lắng đọng hơi hóa học (CVD). Lớp phủ có độ tinh khiết lên tới 99,999% (cấp 5N-6N), độ dẫn nhiệt cao và khả năng chống ăn mòn khí hydro clorua (HCl) nóng. Nó hoàn toàn phù hợp với hệ số giãn nở nhiệt (CTE) của chất nền than chì, đảm bảo không có vết nứt nhỏ hoặc sự phân tách trong quá trình luân chuyển nhiệt nhanh.
Giải pháp kỹ thuật & Ưu điểm về hiệu suất
|
Kích thước kỹ thuật |
Các biện pháp cải tiến VeTek |
Ưu điểm & Kết quả Kỹ thuật |
|
Thiết kế trường kết cấu và dòng chảy |
Mô phỏng trường dòng chảy CVD 3D + Cấu trúc vi mô cạnh túi để hướng dẫn dòng chảy |
Độ đồng đều phân bố dòng khí tăng 35%; sự khác biệt lắng đọng ranh giới loại bỏ |
|
Kiểm soát độ chính xác gia công |
Gia công CNC 5 trục siêu chính xác + Dụng cụ giảm căng thẳng |
Độ phẳng đạt <0,08mm; Dung sai độ sâu túi được kiểm soát trong phạm vi ± 0,003mm |
|
Vật liệu & quy trình phủ |
Lớp phủ dày đặc CVD SiC có độ tinh khiết cao (Độ dày 100-150μm) |
Khả năng chống ăn mòn và sốc nhiệt đặc biệt; tuổi thọ hoạt động kéo dài >40% |
Các đặc tính vật lý chính, độ đồng đều của độ dày SEM và phân tích độ tinh khiết cực cao của lớp phủ CVD SiC
Quan điểm cốt lõi: Dữ liệu hiện trường được đo chứng minh rằng việc tối ưu hóa độ phẳng của cảm biến trực tiếp dẫn đến giảm đáng kể 50,7% sự biến đổi giữa các túi màng epiticular.
Sau khi thay thế các bộ phận cũ bằng chất nhạy cảm than chì epit Wax silicon nhiều túi được tối ưu hóa của VeTek Semiconductor, khách hàng đã tiến hành nghiên cứu theo dõi sản xuất khối lượng lớn liên tục trong 30 ngày trên dây chuyền của họ. Dữ liệu cải tiến chất lượng thực được thu thập bao gồm:
Dữ liệu sản xuất đo được của khách hàng cho thấy mức chênh lệch giữa túi và túi giảm đáng kể từ 1,4% xuống 0,69%, đạt mức giảm tổng thể là 50,7%. Điều này giảm thiểu đáng kể khoảng cách tốc độ tăng trưởng giữa các nhóm khác nhau.
Thông qua tối ưu hóa trường dòng chảy và công cụ có độ chính xác cao, các bộ cảm biến được sản xuất hàng loạt luôn đạt được độ phẳng trong phạm vi <0,15mm, trong đó các bộ cảm biến hàng đầu đạt ổn định <0,08mm, vượt xa các tiêu chuẩn tiêu chuẩn của ngành.
Nhờ các trường nhiệt và dòng chảy có độ ổn định cao, các số liệu về độ đồng đều điện trở suất và độ dày của lớp epiticular đã đạt được phạm vi chất lượng cao. Tỷ lệ sản lượng tấm bán dẫn hạng A của xưởng đúc đã tăng khoảng 3,5%, tiết kiệm hàng trăm nghìn RMB hàng năm chi phí cho tấm bán dẫn bị loại bỏ.
Trả lời:Trong các quy trình CVD ở nhiệt độ cao, các tấm silicon được làm nóng chủ yếu thông qua dẫn nhiệt và bức xạ nhiệt từ chất nhạy cảm. Nếu độ phẳng của thiết bị cảm ứng kém (ví dụ >0,20mm), nó sẽ tạo ra những khoảng trống không đồng đều giữa thiết bị cảm ứng và bộ phát nhiệt bên dưới, gây ra sự thay đổi nhiệt độ cục bộ. Đồng thời, một bề mặt không bằng phẳng sẽ làm gián đoạn dòng chảy tầng của khí phản ứng, gây ra sự dao động nồng độ và vận tốc khí cục bộ, biểu hiện trực tiếp dưới dạng sự thay đổi độ dày màng từ túi này sang túi khác.
Trả lời:VeTek sử dụng lớp phủ cacbua silic CVD có độ tinh khiết cực cao được thiết kế để khớp CTE chính xác với chất nền than chì. Dưới nhiệt độ cao 1200°C và môi trường ăn mòn H2/HCl, nó thể hiện khả năng chống sốc nhiệt và độ trơ hóa học đặc biệt, thường kéo dài tuổi thọ sử dụng từ 30% đến 50% so với các chất nhạy cảm được phủ tiêu chuẩn công nghiệp.
Trả lời:Đúng. VeTek sở hữu khả năng mô phỏng dòng chảy/trường nhiệt CVD hoàn chỉnh và dây chuyền xử lý CNC chính xác. Chúng tôi có thể thực hiện kỹ thuật đảo ngược hoặc tối ưu hóa cấu trúc 1:1 dựa trên kích thước lò do khách hàng cung cấp, thông số luồng không khí hoặc bản vẽ cảm biến kế thừa.
Trả lời:Tất cả các sản phẩm có tính nhạy cảm đều được làm sạch bằng siêu âm và đóng gói chân không chống tĩnh điện bên trong phòng sạch Cấp 1000. Bên trong được bảo đảm bằng cách sử dụng các mô-đun hấp thụ sốc EVA mật độ cao tùy chỉnh và bên ngoài được đóng gói trong các thùng gỗ khử trùng cấp xuất khẩu, đảm bảo vận chuyển không có tác động.
Quan điểm cốt lõi: Các thành phần công cụ cơ khí và nhiệt động bán dẫn chất lượng cao thể hiện sự đầu tư trực tiếp vào việc nâng cao khả năng cạnh tranh của xưởng đúc.
Bằng cách triển khai mô phỏng trường dòng CVD, kiểm soát dụng cụ chính xác và tối ưu hóa lớp phủ CVD SiC trên chất nhạy cảm than chì epit Wax silicon nhiều túi, VeTek Semiconductor đã thành công giúp khách hàng giảm sự biến đổi độ dày màng từ 1,4% xuống 0,69%, giải quyết hoàn hảo thách thức lâu dài về độ dày màng không đồng đều.
Nếu bạn cũng đang gặp phải các vấn đề kỹ thuật như lớp epiticular không đồng nhất, biến dạng chất nhạy cảm than chì, biến thể túi-túi cao hoặc bong tróc lớp phủ CVD, vui lòng liên hệ với nhóm chuyên gia kỹ thuật VeTek Semiconductor để nhận được đánh giá trường dòng chảy miễn phí và kế hoạch tối ưu hóa tùy chỉnh!
![]()
+86-579-87223657
Đường Wangda, phố Ziyang, huyện Wuyi, thành phố Kim Hoa, tỉnh Chiết Giang, Trung Quốc
Bản quyền © 2024 WuYi TianYao New Material Tech.Co.,Ltd. Mọi quyền được bảo lưu.
Links | Sitemap | RSS | XML | Chính sách bảo mật |